利用高通量超微量全光譜分析儀來對不銹鋼的成分進行檢測的過程中，存在著這樣一種問題，同一個測量人員在利用同樣的測量方法和測量儀器，對同一樣品進行多次的檢測，其檢測結果不能保證*相同，在這樣的情況下可以看出，檢測誤差的產(chǎn)生是不可避免的，其中產(chǎn)生誤差的原因有很多，其主要原因如下：
 

　　1、檢測的對象對檢測結果造成影響，在進行檢測的過程中，不能僅僅使用一種檢測條件來對不銹鋼中的成分進行分析，比如分析鋼鐵的工作條件，就不適合對有色金屬進行分析。
 

　　2、激發(fā)光源的不穩(wěn)定性，不銹鋼在檢測時蒸發(fā)或者激發(fā)之間沒有明顯的界線，這些過程幾乎是在同步進行的，這種情況下，都會對檢測結果造成一定程度的影響。
 

　　3、不銹鋼中合金元素含量較高，這樣對其中非金屬元素的含量分析不準確。
 

　　4、操作臺的電極污染，從而造成其中的合金元素含量偏高，導致檢測結果的不合理。
 

　　5、氬氣的純度會引起檢測結果出現(xiàn)誤差。

 

　　優(yōu)點：
 

　　1、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)配置了IBM公司的Ps/Value Point486計算機,是國內較高檔次的機型,采用在計算機擴展槽內插入數(shù)據(jù)采集板的結構,代替了原有的單板機的上下機方法,提高了抗干擾能力。
 

　　2、多通道檢驗方式,因此能同時進行多種元素分析,并且分析速度快捷,樣品上機20秒即可得到數(shù)據(jù)完整的分析報告單。
 

　　3、應用軟件采用流行的漢字菜單界面,并且可采用熱鍵(Hot Key)加快分析速度,操作簡便,直觀易懂,功能完整,具有自動扣除元素間干擾及背景校正,有色金屬的牌號判別,自動選擇分析報表的格式打印等一系列功能。
 

　　4、結構合理,機械性能穩(wěn)定,光學系統(tǒng)漂移量8小時不大于士5um。
 

　　5、測量系統(tǒng)采用優(yōu)良的電子元器件,運行可靠,故障率低。
 

　　6、分光室自身局部恒溫,既了儀器的正常運行,又降低了對工作環(huán)境的要求。
 

　　7、分段積分測量方式,分析的動態(tài)范圍寬廣。